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                产品详细

                ZYGO新一代激光干涉仪系列--VeriFire?激光干涉仪,继承了工业标准GPI?激光干涉仪系列的所有优点,融合了机械相移技术、创造性的数据采 集技术、高性能的光电成像系统、振动补偿软件、非球面测量技术和波纹抑制技术等,是ZYGO技术的集中体现。 所有VeriFire?系列产品 都能提供标准的干涉测量,每种型号均具有特殊的应用。Verif ire"系统真正的斐索型激光光路设计延续了zYG0在面形计量行业*与伦比的经验。共光路的设计结合ZYG0**的采集算法,和功能强大的批软件实现了 高精度的表面计量与先进的分析能力。


                关键性能:

                ?    斐索型共光路系统保证精密测量
                ?    友好的图形用户界面,易于生产线上操作
                ?    创新箅法使其在振动环境中也能实现准确计量
                ?    利用先进的过程控制技术,快速提取测试中不变的信息
                ?    每一帧数据都将振动信息冻结


                所有 Verifire? 系列产品都能提供标准的干涉测量,每种型号均具有特殊的应用,列于下表:

                型號: XPZ QPZ ATZ MST Asphere
                核心技術: 相︾位移式干涉儀 (PSI) 傅立葉轉換相位移
                式干涉儀
                **非球面演算
                法相位移式干涉仪
                光源: 點光源 點光源和 Ring of Fire?環形光源(波紋抑制)
                變焦: 自動 1-6X 數位控制 1-5X
                聚焦: 自動 數控步進焦距控制
                解析度: 640 × 480 圖元 1k × 1k 圖元
                幀速: 75 Hz 100 Hz 43 Hz


                ZYG0激光器长寿命、高功率、稳频

                ..........ZYG0专有的这款激光器的的激光功率和寿命均远远◥超过市售的激光干涉仪中常用的氦氖激光器。
                ..........其寿命评定超过60000小时,所以我们的激光器可以承诺3年免费质保,很大限度地减少停机时间和提高您的投资回报率。
                ..........Verifire干涉仪系统提供平面、球面、光学系统及组件的透射波前的快速,高精度测量。
                ..........可以测量玻璃或塑料光学元件,如平板、透镜和棱镜,甚至精密机加工的金属和陶瓷表面。
                Smar tAveraging”技术
                ..........测量平均对于减少随机噪声源是一种非常有效的办法,如空气湍流◇的影响,但如何确定理想的平均次数是令人头疼的-.
                ..........平均次数太少影响测试效果,次数太多则浪费测试时间。
                ..........Smar tAveraging技术是ZYC0的MXn软件中一个特别的功能,可以自动计算评估并〖采用理想的平均次数。
                ..........Smar tAveraging Tm可以减少操作员的工作量,减少操作者的人为影响,增加测量结果的一致性。
                QPSIM抗震型干∑ 涉计量
                ..........优化的光学系统设计结合高功率激光器,使ZYG0专有的QPS抗震干涉技术,能够在震动环境中实现可靠的“零波纹”相位测量,并可以在质量控制实验室和生产现场提供准确的表面计量。




                集成大量常用测量程序模块

                ?    多个样品的同时分析
                ?    球面曲率半径的测量
                ?    角锥和棱镜测量
                ?    双球面和三平板的测量
                ?    相对角度和楔板楔角的测量
                ?    材料均匀性的测量
                ?    傅立叶变换移相干涉测量(MST型)
                ?    动态设备如MEMS的测量
                ?    薄膜上下层形貌和厚度的测量
                ?    金属零件的测量






                简单的定制过程,用户可调

                ?    设定数控采集和数据处理过程中的各种参数
                ?    选择需要显示的图像曲线和数╲据结果
                ?    几百种符合工业标准的数据可供选择
                ?    自定义屏幕上各种窗口的编排
                ?    保存¤和输出每个样品参数测量.分析设定数据结果
                ?    适用⌒ 于工业化生产的软件
                ?    质量控制--自动显示”合格/不合格”
                ?    编程功能--仪器自动按用户所编程序模式运行.产生相应的信息
                ?    根据用户定义的计算■公式,产生相应的结果
                ?    实时屏现SPC
                ?    自动数据保存和统计
                ?    应用程序”锁定“功能





                强大的数据分析功能

                ?    数据滤波和剪辑
                ?    像差计算
                ?    PSF和MTF图
                ?    斜率图/功率谱密度/环绕能
                ?    ASCII和"XYZ"数据格式
                ?    Zernike分析
                ?    数据和图像加减、缩放、旋转和转换
                ?    ZEMAX、CodeV和0SL0数据格式




                系统

                测量功能 精密测量各种□ 反射面和光学系统的表面面形、精密测量光学系统的传输波前
                测量技术 QPSI快速机械相移模式和传统的机械相移干涉模式(PSI)
                校准系统 快速条纹采样系统(QFAS) (双光点定位于十字线)
                测量光束直径 4″(102mm)或6″(152mm)
                对准视场范围FOV 4″:±3°;6″:±2°;
                光学中心线 4.25″(108mm)
                激光光源 大功率稳频氦-氖激光,IIIa级
                波长 633 nm
                频率稳定度 < 0.0001 nm
                相干长度 >100m
                成像分辨『率 1024 x 1024像素
                帧速 100Hz(PSI)
                数据采集时间 130-300ms
                数据模式 8位
                放大 电控1-5X
                偏振 接近圆偏振(1.2:1或者更好)
                光曈调焦范围 4″:±2.5m;6″:±5.5m;
                计算机和█软件 高性能DELL PC,Windows7,64位,ZYGO**软件 MetroproTM 9和MetroproTM X(2)
                安装构造 水平卧式或垂直立式
                附件 详细参考ZYGO激光干涉仪附件向导文件,OMP-0463
                尺寸(长x宽x高) 4″:69 x 31 x 34 cm (27.3 x 12.1 x 13.4 in.);6″:92 x 31 x 34cm (36.4 x 12.1 x 13.4 in.)
                重量 4″:≤85lb(38Kg);6″:≤100lb(45Kg)
                电源 100-240VAC,50/60Hz


                工作环境:

                温度 15°C - 30°C (59°F - 86°F)
                温度变化率 <1.0°C/15min
                湿度 相对湿度5% - 95% , 无凝结
                隔振 QPSI模式可以在振幅不超过150nm的震动环境下进行测量;机械移相测量模式推荐使用被动隔振系统。


                性能参数:

                RMS重复性(3) < 0.06 nm, λ/10,000 (2σ)
                RMS波前重复性(4) < 0.35 nm,λ/1800 (mean + 2σ)
                像素峰值偏差(5) < 0.5 nm, λ/1200 (99.5th %)